皮下植込みICD、経静脈ICDよりリード合併症少ない

1次または2次予防のため植込み型除細動器（ICD）の適応がある60歳未満の患者503例（平均年齢49.0歳）を対象に、皮下植込み型ICD（S-ICD）と経静脈ICD（VT-ICD）の周術期の安全性および転帰を無作為化多施設試験で比較（ATLAS試験）。平均追跡期間は2.5年だった。 その結果、周術期リード合併症発生率はS-ICD群が0.4％、VT-ICD群が4.8％だった（差－4.4％、95％CI －6.9-－1.9、P＝0.001）。S-ICD群に不適切なICDショック（致命性不整脈がない）の発生率が高い傾向が見られたが（ハザード比2.37、0.98-5.77）、ICDショック失敗（心室性不整脈停止に至らない）発生率の上昇は認められなかった（同0.61、0.15-2.57）。S-ICD群の方がVT-ICD群より、留置日および1カ月後のICD部位疼痛スコア（10点の数値評価尺度）が高かった（留置日4.2±2.8 vs. 2.9±2.2、P＜0.001、1カ月後1.3±1.8 vs. 0.9±1.5、P＝0.035）。...