PFO閉鎖後の残存短絡で脳卒中再発リスク増

経皮的卵円孔開存（PFO）閉鎖術を施行したPFOによる潜因性脳卒中患者1078例を対象に、閉鎖術後の残存短絡と脳卒中および一過性脳虚血発作（TIA）再発の関連を前向きコホート研究で検討した。最長追跡期間は11年だった。 その結果、残存短絡がある患者は完全閉鎖した患者よりも脳卒中またはTIAの再発率が高く、100人年当たりの再発率は残存短絡あり群2.32イベント、完全閉鎖群0.75イベントだった（ハザード比3.05、95％CI 1.65-5.62、P＜0.001）。年齢、試験期間、デバイスなどの重要な共変量で調整した後も関連の頑健性が維持された（同3.01、1.59-5.69、P＜0.001）。中-大サイズの残存短絡があると脳卒中またはTIAの再発リスクが高くなったが（同4.50、2.20-9.20、P＜0.001）、小サイズの残存短絡については関連が確定しなかった（同2.02、0.87-4.69、P＝0.102）。 ...